IEC 60884-1 အိမ်သုံးနှင့် အလားတူရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ပလပ်များနှင့် ပလပ်ပေါက်များ - အပိုင်း 1- အထွေထွေလိုအပ်ချက်များ

scope

IEC 60884-1:2022 သည် 50 V ထက်ကြီးသော အဆင့်သတ်မှတ်ဗို့အား 440 V ထက်မပိုသော 32 V နှင့် XNUMX A ထက်မပိုသော အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော လျှပ်စီးကြောင်းနှင့် မြေကြီးထိတွေ့မှုရှိသော သို့မဟုတ် မပါဘဲ AC အတွက်သာ၊ တပ်ဆင်နိုင်သော သို့မဟုတ် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော ပလပ်ပေါက်များနှင့် သက်ဆိုင်သည်၊ အိမ်သုံးနှင့် အလားတူသောရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ရည်ရွယ်ပါသည်။ အိမ်တွင်းဖြစ်ဖြစ်၊ အပြင်မှာဖြစ်ဖြစ်။

တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော ပလပ်များနှင့် ပလပ်ပေါက်များ ပေါင်းစပ်သောအခါတွင် ပလပ်နှင့် ပလပ်ပေါက်-ပလပ်များ စနစ်တစ်ခု ဖြစ်ပေါ်လာသည်။ ကမ္ဘာတစ်ဝှမ်းတွင် အသုံးပြုသည့် စံချိန်စံညွှန်းစံနစ်များကို IEC/TR 60083 တွင် အစီရင်ခံထားပါသည်။ ဝက်အူမအမျိုးအစား terminals များပါရှိသော ဆက်စပ်ပစ္စည်းများအတွက် အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော အမြင့်ဆုံးလက်ရှိ 16 A အထိ ကန့်သတ်ထားပါသည်။

IEC 60884-1 အိမ်သုံးနှင့် အလားတူရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ပလပ်များနှင့် ပလပ်ပေါက်များ – အပိုင်း 1- အထွေထွေလိုအပ်ချက်များ.pdf-ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။

LISUN အောက်ပါတို့အတွက် အပြည့်အဝ စမ်းသပ်ဖြေရှင်းချက်များကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ IEC 60884-1:2022၊ အောက်ပါ excel ဇယားကို ကြည့်ပါ။

IEC 60884-1:2022 အပိုဒ်နှင့် အကြောင်းအရာ	LISUN ပုံစံ
အပိုဒ် 10.1.1 စမ်းသပ်မှု စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း 12	SMT-1212
Clause 10.2 ပုံမှန်အသုံးပြုနေစဉ်အတွင်း တိုက်ရိုက်အသုံးပြုနိုင်သော အစိတ်အပိုင်းများ အသုံးပြုနိုင်ခြင်း။	SMT-02T10 & SMT-1175
အပိုဒ် 10.3.1 (ပုံ 2a – ခံနိုင်ရည်ရှိသော အဖုံးများပေါ်တွင် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ခိုင်ခံ့မှု စမ်းသပ်မှုအတွက် စက်ကိရိယာ)	GNGPL-3602
Clause 10.5 Shuttered socket-ထွက်ပေါက်များ	SMT-CZ12
အပိုဒ် 11.5 သည် earthing terminal နှင့် အတွင်းပိုင်း ဆက်သွယ်မှု	LSP-5KVAS
Clause 12.3.11 Contact Pressure Drop Test ကိရိယာ	JCY-1
Clause 12.3.12 ပုံ 14 IEC 60884.1 IEC 60669-1 Clause 12.3.12 Screwless Terminals Bending Test Device	JCY-2
အပိုဒ် 13.14 စက်ပစ္စည်းများဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော ဘေးထွက် strain (ပုံ 16)	BCL-1
အပိုဒ် 13.2 (ပုံ 4a) BS1363 သည် British Standard Plugs Socket Outlets Gauges များ	GNGPL-3604
အပိုဒ် 13.6.1 စမ်းသပ်ရန်အတွက် ပလပ်အဖုံးများ ပြင်ဆင်ခြင်း ဝက်အူများ (ပုံ 6)	GNGPL-3606
အပိုဒ် 13.6.1 စမ်းသပ်ပင်နံပါတ် (ပုံ 1)	SMT-BS01
အပိုဒ် 13.9.4.1 ပလပ်တံများတွင် စမ်းသပ်ရန်အတွက် စက်ကိရိယာ (ပုံ 32a)	GNGPL-3632
အပိုဒ် 13.9.6.1 တံများတွင် torsion test အတွက် စက်ကိရိယာ (ပုံ ၃၃)	GNGPL-3633
အပိုဒ် 13.11.1 Mounting plate (ပုံ 7)	GNGPL-3607
အပိုဒ် 13.12 ခံနိုင်ရည်ရှိသော ပလပ်များ အတွက် ပလပ်ပင် လှည့်ပတ်မှု စမ်းသပ်ကိရိယာ (ပုံ 8)	GNGPL-3608
အပိုဒ် 13.17.3 ပလပ်တံများ၏ လျှပ်ကာအင်္ကျီများပေါ်တွင် ပွန်းပဲ့ခြင်းအတွက် စမ်းသပ်ကိရိယာ (ပုံ 9)	LS-B10
အပိုဒ် 13.17.4 မြင့်မားသောအပူချိန်တွင် ဖိအားစမ်းသပ်ရန်အတွက် စက်ကိရိယာ (ပုံ 10)	GNGPL-3610
အပိုဒ် 14.2 သယ်ဆောင်ရနိုင်သော ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၏ တံများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ခိုင်ခံ့မှု (ပုံ 17)	LS-B04
Clause 14.22.2 Plug Torque Tester	LSPTT-1
Claue 15 အိုမင်းရင့်ရော်မှုကို ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး စိုထိုင်းဆ	GDJS-015B
အပိုဒ် 16.1.2 လျှပ်ကာ ခုခံမှု	WB2681A
အပိုဒ် 16.2 အကာအရံများဖြင့် အကာအကွယ်ပေးခြင်း (ပုံ 18)	LS-B05
အပိုင်း 17 အပူချိန်မြင့်တက် (ပုံ 17a/17b)	GNGPL-3617
အပိုဒ် 17.3 လျှပ်စစ် ခိုင်ခံ့မှု စမ်းသပ်မှု	WB2673C
အပိုဒ် 19 အပူချိန်မြင့်တက်ခြင်း။	WS-1
အပိုဒ် 20 ချိုးဖောက်နိုင်မှု (ပုံ 22)	CZKS-3 & DFX-20
အပိုဒ် 20.1.2 ဖျစ်ကလစ်များတွင် စမ်းသပ်ရန်အတွက် Solid link (ပုံ 19)	GNGPL-3619
အပိုဒ် ၂၂ (ပုံ ၁၈ နှင့် ၁၉)IEC 60884-1 Clause 13.14 ပုံ 16 Device သည် Lateral Strain ကို ခံနိုင်ရည်ရှိမှုကို စစ်ဆေးခြင်း \| IEC 60884-1 အပိုဒ် 20 ပုံ 18 နှင့် 19 သည် အများဆုံး နှင့် အနိမ့်ဆုံး ဆွဲထုတ်ခြင်းအား	BCL-1
အပိုဒ် 23.1.2 အပူပေး ကက်ဘိနက်	GW-225
ဖိအားစမ်းသပ်မှုအတွက် အပိုဒ် 23.1.3 စက်ကိရိယာ (ပုံ 23)	GNGPL-3623
အပိုဒ် ၂၃.၂ ကြိုးကျောက်ချခြင်း(ပုံ ၂၇)	LS-B07 နှင့် LS-B47
အပိုဒ် 23.4 ဆက်စပ်ပစ္စည်းများရှိ ကေဘယ်ဝင်ပေါက်ကို ကာကွယ်ခြင်း (ပုံ 28)	SW-6 & DFX-20
အပိုဒ် ၂၄.၂ ချိန်သီးတူဖြင့် သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်မှု	IK01-06P
Clause 24.3 Tumble barrel စမ်းသပ်မှု	LS-DDT1-B
အပိုဒ် 24.5 နိမ့်သောအပူချိန်တွင် သက်ရောက်မှုစမ်းသပ်မှု (ပုံ 30)	DWC-2
အပိုဒ် 24.6 ဖိသိပ်မှုစမ်းသပ်မှု (ပုံ 6)	LS-B08
ကေဘယ်ဂလင်းများအတွက် အပိုဒ် 24.7 Torque စမ်းသပ်ခြင်း။	LWMF-1
Claues 24.8 ပလပ်တံများ၏ လျှပ်ကာအင်္ကျီများပေါ်တွင် ပွန်းပဲ့မှုစမ်းသပ်ခြင်း (ပုံ 31)	LS-B10
အပိုဒ် 24.10 သည် သယ်ဆောင်ရနိုင်သော socket-ထွက်ပေါက်များစွာအတွက် စမ်းသပ်ခြင်း(ပုံ ၃၂)	LS-B11
အပိုဒ် 24.11 တံများအတွက် ထိန်းသိမ်းခြင်း စမ်းသပ်ခြင်း (ပုံ ၃၃)	LS-B12
အပိုဒ် 24.12 သည် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော ပလပ်ပေါက်-ပလပ်များကို ဆိုင်းငံ့ခြင်းအတွက် နည်းလမ်းများအတွက် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ စမ်းသပ်မှု	Smt-2126
အပိုဒ် 24.13-15 အဖုံးများ၊ အဖုံးပြားများ သို့မဟုတ် ၎င်းတို့၏ အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ခြင်း (ပုံ ၃၄)	LS-B14
အပိုဒ် 24.16 တပ်ဆင်ထားသော မျက်နှာပြင် သို့မဟုတ် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ဝက်အူများမပါဘဲ ကာဗာများ၏ ကောက်ကြောင်းကို အတည်ပြုခြင်း (ပုံ 35)	GNGPL-23507
အပိုဒ် 24.17 တွင် grooves၊ hole နှင့် reverse tapers များကို အတည်ပြုခြင်း(ပုံ 38)	SMT-1203
အပိုဒ် 25.3 125° ℃ တွင် Ball-pressure test (ပုံ 40)	ZBP-T/GW-225
အပိုဒ် 25.5 ဖိသိပ်မှုစမ်းသပ်မှု (ပုံ 41)	LS-TCT-1
အပိုဒ် 27 အကွာအဝေးများ၊ တံဆိပ်ခတ်ထားသော ဒြပ်ပေါင်းများမှတဆင့် အကွာအဝေးများ (ဇယား 26)	CK-1
Clause 28.1.2 Glow-wire စမ်းသပ်မှု	ZRS-3H
အပိုဒ် 28.1.3 insulating sleeves ပါသော တံများအတွက် စမ်းသပ်ခြင်း (ပုံ 43)	LS-B17
အပိုဒ် 28.2 ခြေရာခံရန် ခုခံမှု	TTC-1
အပိုဒ် ၂၅ သည် သံချေးတက်ခြင်းကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။	YWX/Q-010